A mikroszkópot fémek, ötvözetek, félvezető anyagok és egyéb nem átlátszó minták mikroszerkezetének tanulmányozására tervezték. A fordított mikroszkóp kialakítása nem korlátozza a vizsgált minta méretét kizárólag súlykorlát van, ami 2 kg-ig terjed. A mintát speciális preparálás után kell a felülettel lefelé a tárgyasztalra helyezni.
A mikroszkóp visszaverődő fényben az alábbi három kontraszttechnikát alkalmazza: a világos látóteres, az egyszerű polarizációs és a differenciál-interferencia kontrasztos technikát.
A világos látóteres módszer autentikus nagyított képet ad a tárgyról. Az egyszerű polarizáció a fémfelületek tükröződését eltávolítja, a polimereket és más idegen elemeket kiemeli. A differenciál-interferencia kontraszt kiszínezi egy objektum magasságkülönbségét, és ezáltal feltárja az adott minta topográfiáját. A tanulmányozott objektum kidomborodva jelenik meg.
A háromszemlencsés tubus és az oldalsó kamera csatlakozó lehetőséget ad a monitor és a kamera egyidejű csatlakoztatására.
A mikroszkóp különböző területeken (kohászat, gépipar, repülőgépipar, nukleáris és energiaipar), valamint kutatólaboratóriumokban és műszaki egyetemeken használható.
