A differenciál interferencia kontraszt (DIC) eszköz olyan átlátszó, alacsony kontrasztú minták tanulmányozására szolgál, amelyek világos látótérben nem láthatók. A technika optikai, nem pedig kémiai eszközökkel javítja a kép felbontását és tisztaságát, és plusz információkat ad a minta szerkezetéről. A DIC technika pszeudo-relief hatású képeket biztosít. A kép szín- és intenzitási hatásait a törésmutató változási sebessége és a minta szomszédos szakaszainak a vastagsága határozza meg. A minta képe háromdimenziósan jelenik meg. A 3D nézeten a minta tényleges geometriája nem látható ehelyett a rendszer az optikai vastagság szerint színezi a mintát. Ez a technika nem alkalmas a tényleges magasság és mélység mérésére. A DIC- és a fáziskontraszt technika kiegészíti egymást. Hasonló kontrasztú képeket állítanak elő, de a DIC-képeknél a minták körül nincsenek diffrakciós fáziskontraszt fényudvarok. Ezek a fényudvarok azért jelennek meg, mert a minta és a környező közeg törésmutatója eltér egymástól. Gyakran akadályozzák a megfigyelt szerkezetek széleinél található részletek megfigyelését. A DIC technikával ezek a részletek láthatók.
